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矿石成分化验仪器,矿石成分分析仪器
TP系列矿石成分化验仪器,矿石成分分析仪器是用于多元素分析的集光,电,计算机为一体的三通道元素分析仪,专门为精确定量分析矿石以及有色金属(铝合金、铜合金、不锈钢、锌合金等)中的铁、铜、硅、锰、镁、铝、镍、锌、锡、钛、铅、钴等元素成分而设计制造,适用于对矿石等金属材料中的多种元素的分析,现已广泛使用在冶金,矿产,机械,铸造,化工等工矿企业以及科研院所和技术质量监督部门。是新一代比色分析仪器的理想换代产品...
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钢铁成分化验仪器,钢铁成分分析仪器
TP系列钢铁成分化验仪器,钢铁成分分析仪器是我司根据国家标准研制开发的用于多元素分析的集光,电,计算机为一体的高智能分析仪器,专门为精确定量分析钢铁以及有色金属(铝合金、铜合金、不锈钢、锌合金等)中的铁、铜、硅、锰、镁、铝、镍、锌、锡、钛、铅、钴等元素成分而设计制造,适用于对矿石等金属材料中的多种元素的分析,现已广泛使用在冶金,矿产,机械,铸造,化工等工矿企业以及科研院所和技术质量监督部门。是新一代比...
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铁精粉成分分析仪器,铁粉化验仪器
南京同普公司专业制造各类铁精粉成分分析仪器,铁粉化验仪器,矿石分析仪、铝矿石分析仪、铜矿石分析仪、碳硫高速分析仪、五金分析仪器,五金化验仪,高速分析仪器,不锈钢分析仪,矿石化验仪器,实验设备,化验设备,三元素分析仪,微机元素分析仪,碳硫分析仪,元素分析,元素化验,微机碳硫分析仪,定碳仪、多元素分析仪,可测定生铁、铸铁、球铁、普碳钢、合金钢、合金铸铁、不锈钢、各种矿石、有色金属中碳、硫、锰、磷、硅、镍、...
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革命性的动态热机械分析仪(DMA/DMTA)
技术参数:
1、测试频率最大200Hz;
2、最大力值根据型号不同从22N至15KN
3、噪音低于50分贝;
4、最大动态位移12-50mm;
5、电源要求:208-230V, <10A;
6、动磁式直线驱动方式,免维护;
7、最低测试频率要求达到0.0001Hz;
8、可作DMA、DMTA试验;
基于BOSE专利的动磁技术,以绝对的技术优势替代液压、气动、丝杠等传统驱动方式测试系统,弥补了传统设备无法克服的种种应用缺陷。专利的无摩擦刚性悬挂系统彻...
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HiCC-S型彩色自动菌落计数分析仪
HiCC-S型自动菌落计数仪及抑菌圈测定仪采用高清晰扫描仪成像,其显著优点是:准确、简便。 (1)自动识别统计:SmartdownTM菌落智能识别技术,可自动识别大规模团状、链状粘连的球菌菌落,以及显微镜下大规模团状、链状粘连的长形杆菌(包括显微形态相互粘连的大肠杆菌、病菌孢子)。(2)150~600个菌落/s的计数速度,每小时最快计数120个平板。 (3)颜色识别和专有的背景校正,精细分割光照不匀的菌落,最多同时计数出15类菌...
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高清晰全自动菌落计数分析仪
HiCC-I型/HiCC-IB型全自动菌落计数仪、抑菌圈测定仪及分析系统的显著优点是:快捷、准确、简便。 (1)自动识别统计:SmartdownTM菌落智能识别技术,可自动识别大规模团状、链状粘连的球菌菌落,以及显微镜下大规模团状、链状粘连的长形杆菌(包括显微形态相互粘连的大肠杆菌、病菌孢子)。自动计数精度≥96.5%,最多监视修正3.5%,即达100%正确。计数性能在国内可比较的公开PK中处于领先水平。 (2)分析统计速度:拍照看到...
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X荧光镀层测厚/镀膜测厚/材料分析仪
美国赛默飞世尔ThermoFisher(热电)公司 MicronX 利用X-射线荧光的非接触式的无损测试技术完美地用于微电子学、光通讯和数据贮存工业的金属薄膜测量。 可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成分,测量厚度可以从A(埃)至μ(微米),他也能测量多至 20个元素的块状合金成分。 其光束和探测器的巧妙结合加上高级的数字处理技术使得MicronX能最佳地解决你的应用。结果是ASIM(应用专用仪器测量)在准确度、精密度、和重现性上具有独...
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X荧光镀层/镀膜测厚仪/材料分析仪
赛黙飞世尔ThermoFisher(美国热电)能量色散X-荧光光谱仪(ED-XRF)
技术参数 样品室 样品类型 固体、粉末、液体、滤渣、镀层和其它 尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H) 增高室(选购件): 21.5cm或37.1cm 单位盘 样品可大至样品室大小 10位盘(选购件) 带自转机构,样品可大至47mm 20位盘(选购件) 样品可大至31mm 自动和手动盘 为特种样品专用的样品盘,选购件 环境 空气、真空(选购件)和充氦(选购件) 激发 X-光管 超高通量,...
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DU800紫外分光光度计/核酸蛋白分析仪
波长范围:190-1100nm,0.1nm步进 波长精度:±0.2nm(于D2峰656. 1nm) 波长重现性:±0.1nm(于D2峰656. 1nm) 光学读数:-0.300至3.000A或0.0至200.0%T 光谱带宽:≤1.8nm 光学精度:±0.005A或0.3%T于1A使用NBS 930滤光片 辐射散光:<0.05%T于220nm使用ASTM方法 噪音(RMS):<0.0002Arms(OA,500nm) 稳定度:<0.003A/hr,1小时热身后(于340nm) 扫描速度:...
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纳米粒度、 Zeta电位和绝对分子量分析仪
1.粒度测定范围:0.6nm-6000nm 2.浓度范围:0.1ppm-40%(W/v) 3.分子量测定范围:1,000-10,000,000道尔顿 4.高分辨Zeta电位分析:可分辨5mV的Zeta电位差别 5.温度控制范围:2-90度
1.具有最低的纳米粒度下限:可测量亚纳米区及高分子大小 2.具有最宽的浓度应用范围:0.1ppm – 40% (w/v)。最少样品量仅0.75ml。 3.独有的高分辨Zeta电位技术:可轻易发现污染物,并可测定高盐浓度及极低迁移率的样品 4.可对分子量进行测定,包括旋转半径...
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