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铁精粉成分分析仪器,铁粉化验仪器
南京同普公司专业制造各类铁精粉成分分析仪器,铁粉化验仪器,矿石分析仪、铝矿石分析仪、铜矿石分析仪、碳硫高速分析仪、五金分析仪器,五金化验仪,高速分析仪器，不锈钢分析仪，矿石化验仪器，实验设备，化验设备，三元素分析仪，微机元素分析仪，碳硫分析仪，元素分析，元素化验，微机碳硫分析仪，定碳仪、多元素分析仪，可测定生铁、铸铁、球铁、普碳钢、合金钢、合金铸铁、不锈钢、各种矿石、有色金属中碳、硫、锰、磷、硅、镍、...
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革命性的动态热机械分析仪（DMA/DMTA)
技术参数：
1、测试频率最大200Hz；
2、最大力值根据型号不同从22N至15KN
3、噪音低于50分贝；
4、最大动态位移12-50mm；
5、电源要求：208-230V, <10A；
6、动磁式直线驱动方式，免维护；
7、最低测试频率要求达到0.0001Hz；
8、可作DMA、DMTA试验；
基于BOSE专利的动磁技术，以绝对的技术优势替代液压、气动、丝杠等传统驱动方式测试系统，弥补了传统设备无法克服的种种应用缺陷。专利的无摩擦刚性悬挂系统彻...
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触屏分析式能量色散荧光光谱仪（EDXRF）
S2 RANGER
当今能量色散荧光光谱仪（EDXRF）在研究和过程与质量控制领域中成为一个非常重要的工具。满足不同分析要求的高灵活性、使用成本低、维护简单、占地面积小、移动方便。
RANGER在广泛的工业应用领域
如水泥、油品、润滑油、化工产品、炼油厂、研究、环境监测以及废物管理等领域具有很强的吸引力。
S2 RANGER的设计特点
将触摸屏、打印机、真空泵一体化集成到一起，因此，降低了占地空间。单一的连接口，避免了...
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HiCC-S型彩色自动菌落计数分析仪
HiCC-S型自动菌落计数仪及抑菌圈测定仪采用高清晰扫描仪成像，其显著优点是：准确、简便。 （1）自动识别统计：SmartdownTM菌落智能识别技术，可自动识别大规模团状、链状粘连的球菌菌落，以及显微镜下大规模团状、链状粘连的长形杆菌（包括显微形态相互粘连的大肠杆菌、病菌孢子）。（2）150～600个菌落/s的计数速度，每小时最快计数120个平板。 （3）颜色识别和专有的背景校正，精细分割光照不匀的菌落，最多同时计数出15类菌...
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高清晰全自动菌落计数分析仪
HiCC-I型/HiCC-IB型全自动菌落计数仪、抑菌圈测定仪及分析系统的显著优点是：快捷、准确、简便。 （1）自动识别统计：SmartdownTM菌落智能识别技术，可自动识别大规模团状、链状粘连的球菌菌落，以及显微镜下大规模团状、链状粘连的长形杆菌（包括显微形态相互粘连的大肠杆菌、病菌孢子）。自动计数精度≥96.5%，最多监视修正3.5%，即达100%正确。计数性能在国内可比较的公开PK中处于领先水平。 （2）分析统计速度：拍照看到...
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X荧光镀层测厚/镀膜测厚/材料分析仪
美国赛默飞世尔ThermoFisher（热电）公司 MicronX 利用X-射线荧光的非接触式的无损测试技术完美地用于微电子学、光通讯和数据贮存工业的金属薄膜测量。 可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成分，测量厚度可以从A(埃)至μ(微米)，他也能测量多至 20个元素的块状合金成分。 其光束和探测器的巧妙结合加上高级的数字处理技术使得MicronX能最佳地解决你的应用。结果是ASIM（应用专用仪器测量）在准确度、精密度、和重现性上具有独...
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X荧光镀层/镀膜测厚仪/材料分析仪
赛黙飞世尔ThermoFisher（美国热电）能量色散X-荧光光谱仪（ED-XRF）
技术参数 样品室 样品类型 固体、粉末、液体、滤渣、镀层和其它 尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H) 增高室(选购件): 21.5cm或37.1cm 单位盘 样品可大至样品室大小 10位盘(选购件) 带自转机构，样品可大至47mm 20位盘(选购件) 样品可大至31mm 自动和手动盘 为特种样品专用的样品盘，选购件 环境 空气、真空(选购件)和充氦(选购件) 激发 X-光管 超高通量，...
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动态机械热分析（动态粘弹谱仪）
仪器介绍美国BOSE公司ElectroForce(ELF)系列设备针对材料高性能动态机械性能的分析测试，基于BOSE专利的动磁线性电机和无摩擦悬挂系统，配合专业的相关测试软件，为材料动态力学性能测试领域提供了革命性的测试手段。 ELF系列仪器通过专利技术的整合，完美地将材料动态的高精度（纳米级）、高频率（200Hz）、大动态载荷（最高达10KN）、最佳维护性能（无噪音、无油、无摩擦、免维护，万亿亿次无故障）集成，提供了材料测试工...
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扫描电镜微区X射线荧光分析系统
X射线源 空冷侧窗式微聚焦X射线管 阳极材料: Cu, Mo, Rh, W (其它阳极可根据用户要求定制) 最大参数: 50kV, 800μA, 30W 阳极束斑: 约50 x 50 μm 侧窗: 100 μm Be 光闸和4过滤器轮(可选) 支持各种扫描电子显微镜型号, 如FEI, HITACHI, JEOL, Tescan, ZEISS等高压和控制器单元 参数: 50kV, 800μA 稳定性: 优于 0.02% 安全锁电子系统X射线光学 多毛细管光学系...
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Image Metrology扫描探针显微镜图像分析系统
Over the years, the Scanning Probe Image Processor, SPIP™, has become the de-facto standard for image processing at nanoscale. SPIP™ is a modular software package offered as a basic module and 14 optional add-ons dedicated to specific purposes. Whether you are an expert user or new to the field of image analysis, SPIP™ lets you produce the results you need with just a few mouse c...
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