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您现在的位置:中国聚合物网 > 全站 > 精密仪器 光电 的搜索结果 共有结果376,当前从第11条到第20条,本次搜索耗时0.0312671
 
全自动光电子能谱仪
    由于传统XPS的使用和维护复杂、成本高昂(或者性能低),大大妨碍了这一表面分析有效手段的推广。 K-Alpha是Thermo Scientific最新研制的综合性能一体化XPS,多项新技术的应用,使其可以同时满足现代用户对于:高性能、低成本、容易使用、维护简单的要求。     K-Alpha是第一台可以全自动完成从进样到产生报告整个分析过程的XPS工具。这意味着即使新用户经过简单培训就可以得到高质量可重复的样...
http://www.polymer.cn/PY10128/index
 
X射线光电子能谱仪
1.普通光源分辨率0.9eV1,500cps-900kcps 2.单色光源分辨率0.65eV100kcps 3.普通光源Al,600W/Mg,500W;2.5-50mA.单色光源Al,600W;2.5-50mA 4.能量搜索范围:0-1480eV,步长:0.025eV 5.真空度7 X 10-8 1.高分辨 2.最大90mm直径样品 3.单色光X-射线源 4.三轴马达驱动台 5.离子泵、分子泵、升华泵、机械泵 1.30um直径内高空间分辨率、高灵敏度分析。 2.大样品室,非破坏性分析(最大90mm直径样品)。 3.扫描区域最大50X18mm 4.TRXPS...
http://www.polymer.cn/PY10420/index
 
X射线光电子能谱仪
●灵敏度 700kcps (Ag3d5/2) ●X射线源 Mgkα 12kV、30mA(Mg/Al靶选购) ●到达真空度 5× 10-7Pa以下 ●分辨率 FWHM Ag3d5/2 0.8eV 重视基本性能、紧凑设计的X射线光电子能谱仪。测定操作简便,可自动分析多种样品,适于质量管理分析与研究开发。备有用于快速深度方向分析的离子枪(选配)。 高灵敏度•高分辨率的极表面分析测定,提供化学信息。
http://www.polymer.cn/PY10465/index
 
光电纠偏盘纸分切机
    本机主要用于分切大直径盘纸,适用于40-800g/m²的卷筒纸,分切复卷成用户所需的宽度。
http://www.polymer.cn/PY10673/index
 
ZFJ-600/800/1000/1200型光电纠偏机
    该机具有单、双反射式光电开关,能自动纠正各种印刷及非印刷塑料薄膜、不干胶、铝箔等材料的端面不齐整,使其走料规整,是包装制品上档次的首选配套机械。
http://www.polymer.cn/PY10673/index
 
光电直读光谱仪
  新一代光电直读光谱仪;WLD-4C型光电直读光谱仪是集30多年的生产科研实践基础上,吸取国内外的先进技术和经验研制开发的仪器。该仪器出具有源系列老产品的分析精度高、性能稳定的优点外,还特别适用于各类有色金属如铅、镁、锌等的分析。 主要特点(1)仪器结构设计合理,更加小型化、集成化。 (2)分析速度快、重复性好、稳定性好。 (3)采用高集成化采集和控制系统,自动化程度高。 (4)可用于多种基体分析:黑色金...
http://www.polymer.cn/PY12748/index
 
E3Z系列光电传感器
  放大器内置型光电开关(小型)    实现小型、长距离、节省电力和节省能源的光电传感器的标准型 ■检测距离/对射型15m、回归反射型4m、扩散反射型1m。 ■独特的防止外部乱光计算方法,变频荧光灯下也能工作。 1、最大限度降低电力消耗和含铅材质的使用。 2、IP67保护构造,防止相互干扰功能, EN规格标准。防油型为IP67f。 3、光轴与机械轴的偏差控制在±2.5°以内,光轴对合更容易。 额定值/性能
http://www.polymer.cn/PY13429/index
 
X 射线光电子能谱(XPS)
产品介绍: •产品名称:X 射线光电子能谱(XPS) •产品型号:The PHI 5000 Versaprobe II (VP-II) •品    牌:日本ULVAC-PHI •产    地:日本 The PHI 5000 Versaprobe II (VP-II) 能提供高性能的微区光谱,化学成像,二次电子成像,其最小的X射线束光栅扫描直径约为10微米。X射线束的大小可以轻易的使用电脑控制在直径10微米到400微米设定,从而达到最好的空间解释度...
http://www.polymer.cn/PY14163/index
 
高性能成像X光电子能谱仪
    THERMO VG先进的专业表面分析软件AVANTAGE,WINDOWS NT操作平台。工业化标准,分析功能强大,操作使用直观方便,与其它商业应用软件兼容性好。     专利的快速平行X光电子实时成像,可进行微区元素和化学态空间分布分析     X光电子成像保证空间分辨率优于3μm,最好达到1μm     标准主机包含大面积XPS分析,、小面积XPS分析和ISS分析, XPS Imaging and XPS Mapp...
http://www.polymer.cn/PY10128/index
 
万分之一机械光电天平
万分之一机械光电天平一、特点:可供工矿企业、科研机构、高等院校实验室、化验室作精密衡量分析之用。二、技术参数:1、称量范围:0~200g2、分度值:0.1mg3、光学读数范围:0-10mg4、机械加码范围:0.01-199.99g      5、秤盘尺寸:Φ75mm6、外型尺寸:420mm*370mm*500mm7、净重:18kg
http://www.polymer.cn/PY11068/index
 
 
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