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氧化硅比表面及孔径分布测定仪
3H-2000PS1型静态容量法氧化硅比表面及孔径分布测定仪 氧化硅比表面及孔径分布测定仪性能简介: 测试方法: 静态容量法 3H-2000PS1型静态容量法氧化硅比表面及孔径分布测定仪特征简列:       ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告;            ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压(P0)测试站;  &nb...
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矿物粉比表面及孔径分布测定仪
3H-2000PS1型静态容量法矿物粉比表面及孔径分布测定仪特征简列:       ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告;            ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压(P0)测试站;       ◆ 具有精确的全自动液氮面伺服保持系统;       ◆ 具有国内外领先的测...
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陶瓷材料比表面及孔径分布测定仪
3H-2000PS1型静态容量法陶瓷材料比表面及孔径分布测定仪特征简列:       ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告;            ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压(P0)测试站;       ◆ 具有精确的全自动液氮面伺服保持系统;       ◆ 具有国内外领先的...
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氧化铝比表面及孔径分布测定仪
3H-2000PS1型静态容量法氧化铝比表面及孔径分布测定仪 氧化铝比表面及孔径分布测定仪性能简介: 测试方法: 静态容量法 3H-2000PS1型静态容量法氧化铝比表面及孔径分布测定仪特征简列:       ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告;            ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压(P0)测试站;  &nb...
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氧化锆比表面及孔径分布测定仪
3H-2000PS1型静态容量法氧化锆比表面及孔径分布测定仪 氧化锆比表面及孔径分布测定仪性能简介: 测试方法: 静态容量法 3H-2000PS1型静态容量法氧化锆比表面及孔径分布测定仪特征简列:       ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告;            ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压(P0)测试站;  &nb...
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氧化釔比表面及孔径分布测定仪
H-2000PS1型静态容量法氧化釔比表面及孔径分布测定仪特征简列:       ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告;            ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压(P0)测试站;       ◆ 具有精确的全自动液氮面伺服保持系统;       ◆ 具有国内外领先的测...
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氮化硅比表面及孔径分布测定仪
3H-2000PS1型静态容量法氮化硅比表面及孔径分布测定仪 氮化硅比表面及孔径分布测定仪性能简介: 测试方法: 静态容量法 3H-2000PS1型静态容量法氮化硅比表面及孔径分布测定仪特征简列:       ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告;            ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压(P0)测试站;  &nb...
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碳化硅比表面及孔径分布测定仪
3H-2000PS1型静态容量法碳化硅比表面及孔径分布测定仪性能简介: 测试精度: 测试精度高、重现性好。重复性误差小于±2%; 测试范围:比表面0.01m2/g以上,孔径0.35-400nm;样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。 分析站数量:具有1个样品分析站,1个P0测试站,2个样品脱气站; P0测试:具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站,保证分压测试的高准确性; 样品预处理: 主机自带一体式脱气装置,同时处理样...
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炭黑比表面及孔径分布测定仪
3H-2000PS1型静态容量法炭黑比表面及孔径分布测定仪 炭黑比表面及孔径分布测定仪性能简介: 测试方法: 静态容量法 3H-2000PS1型静态容量法炭黑比表面及孔径分布测定仪特征简列:       ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告;            ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压(P0)测试站;   &nb...
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金属氧化物比表面及孔径分布测定仪
3H-2000PS1型静态容量法金属氧化物比表面及孔径分布测定仪 金属氧化物比表面及孔径分布测定仪性能简介: 测试方法: 静态容量法 3H-2000PS1型静态容量法金属氧化物比表面及孔径分布测定仪特征简列:       ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告;            ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压(P0)测试站...
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