表面 PISA,中国聚合物网

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比表面积及介孔微孔分布检测仪
3H-2000PS1型静态容量法比表面积及介孔微孔分布检测仪比表面积及介孔微孔分布检测仪性能简介：测试方法：静态容量法 3H-2000PS1型静态容量法比表面积及介孔微孔分布检测仪特征简列： ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告； ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压（P0）测试站； &nb...
http://www.polymer.cn/PY11564/index

比表面及介孔微孔分布检测仪
3H-2000PS1型静态容量法比表面及介孔微孔分布检测仪性能简介：测试精度：测试精度高、重现性好。重复性误差小于±2%；测试范围：比表面0.01m2/g以上，孔径0.35-400nm；样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。分析站数量：具有1个样品分析站，1个P0测试站，2个样品脱气站； P0测试：具有独立的饱和蒸汽压（P0）测试站，保证分压测试的高准确性；样品预处理：主机自带一体式脱气装置...
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比表面积及介孔微孔分布测量仪
3H-2000PS1型静态容量法比表面积及介孔微孔分布测量仪性能简介：测试精度：测试精度高、重现性好。重复性误差小于±2%；测试范围：比表面0.01m2/g以上，孔径0.35-400nm；样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。分析站数量：具有1个样品分析站，1个P0测试站，2个样品脱气站； P0测试：具有独立的饱和蒸汽压（P0）测试站，保证分压测试的高准确性；样品预处理：主机自带一体式脱气装置，同时处理样...
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比表面及介孔微孔分布测量仪
贝士德仪器科技（北京）有限公司(原汇海宏纳米)是国内专业生产比表面积仪生产厂家，在中国最早从事比表面及介孔微孔分布测量仪的研发、生产、销售、培训等，是北京中关村科技园认定的高新技术企业。我公司自行研发生产的3H-2000系列全自动氮吸附比表面积仪，比表面及介孔微孔分布测量仪，为国内著名品牌，2000年进入市场，经过多年的不断研发创新，性...
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比表面积及介孔微孔分布测试仪
样品预处理：主机自带一体式脱气装置，同时处理样品数量：2；两路脱气站具有独立温控，并具有独立定时功能，可支持与测试同步进行的不同温度与不同时间的样品脱气处理；样品预处理模式：具有国内唯一的“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；分子置换模式相对分子扩散模式效率提高1倍以上，可节省一半以上的预处理时间，解决以往静态法样品制备时间长的问题； ...
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比表面及介孔微孔分布测试仪
3H-2000PS1型静态容量法比表面及介孔微孔分布测试仪比表面及介孔微孔分布测试仪性能简介：测试方法：静态容量法 3H-2000PS1型静态容量法比表面及介孔微孔分布测试仪特征简列： ◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告； ◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压（P0）测试站； &nb...
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德国BMT CMM表面轮廓和粗糙度测量仪
CMM表面轮廓和的粗糙度测量仪 BMT微型形貌及粗糙度测量仪与CMM机械臂的结合为CMM增加了通用粗糙度测量仪的功能。附加了CMM机械臂的微型形貌粗糙度测量仪是一个可交换系统，并与传统探针一样，能够将数据存储在CMM可导出系统中。该机械臂有独立的处理器，可以操纵测量仪从各个角度测量工件。该仪器所配软件的特点是可以设定试验时所用力度的大小。移...
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德国BMT 发动机气缸表面扫描（非接触式）
发动机气缸表面扫描（非接触式）CylScan Cylinder Face Scanner 汽缸扫描仪，可以扫描整个汽缸壁表面，高精度使得整个汽缸壁可作为整体被扫描。用整合光源及光电二极管棒来完成整个汽缸壁的扫描。扫描头自动对中，适用于所有标准的车辆汽缸直径。技术参数 ● 适用于：汽缸/轴套3D非接触式表面轮廓/粗度测量 ● 测量项目：表面轮廓、粗糙度、磨耗体积、涂层缺...
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德国BMT 表面轮廓和粗糙度测量仪系列
德国BMT 表面轮廓和粗糙度测量仪系列在线质量检验：◆ 创新通用型表面粗糙度仪用于在线测量，可选配带可编程控制定位的机器手，无导板探针，用于测量不规则纹路。◆ 模块化配置的机械臂可以快速容易定位于测量部位。精密的基准面可实现比现有产品的更高扫描速度。可自动定期进行校准和探针检查主要特点：◆ 适用范围广，能用于测量各种工件和不同任务◆ 模块化结构◆ 快速测量◆ 可快速更换探...
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德国BMT 气缸和轴套表面轮廓测量仪
德国BMT 气缸和轴套表面轮廓测量仪 WLICyI是一种对汽缸和轴套表面轮廓进行三维非接触式测量的仪器。可用于实验室科研开发，生产和在线测量。 WLICyI以其测量头达到从物理角度看最好的水平和垂直分辨率和结实而坚固的造型颇受欢迎。无需维护及其高度自动化的特性使它尤其适用于生产过程检测。利用WLICyI...
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