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高精度大范围扫描探针显微镜
s p e c i f i c a t i o n s •； stage - standard vacuum chuck size: 150 mm - sample thickness: up to 35 mm - examination area: 150 mm x 150 mm - fully motorized, controlled optics - optical resolution: 2 μm figure 1: magnetic force (mfm) image of a hard drive disc. 40μm x 40μm. c omp a t i b i l i t y •； compatible with molecular imaging’s pico family of products and all ac modes ...
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扫描电镜微区X射线荧光分析系统
X射线源 空冷侧窗式微聚焦X射线管 阳极材料: Cu, Mo, Rh, W (其它阳极可根据用户要求定制) 最大参数: 50kV, 800μA, 30W 阳极束斑: 约50 x 50 μm 侧窗: 100 μm Be 光闸和4过滤器轮(可选) 支持各种扫描电子显微镜型号, 如FEI, HITACHI, JEOL, Tescan, ZEISS等高压和控制器单元 参数: 50kV, 800μA 稳定性: 优于 0.02% 安全锁电子系统X射线光学 多毛细管光学系...
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多功能环境控制扫描探针显微镜
1. huity control from 0 to 99% 湿度控制： 0 to 99% 2. data length 16 bits, all channels 传输数据长度： 16位，所有通道 3. image pixel resolution up to 1024×1024 图像像素分辨率： 最大1024×1024 4. scan range 90μmwith large scanner 扫描范围： 最大90μm 5. resolution mica atomic resolution or graphite atomic resolution 分辨率： 云母原子,或石墨原子 6. noise lever vertical, less than 0.1 å；rms ...
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高分辨电化学扫描探针显微镜
environmental control（环境控制） ；temperature control（温度控制） electrochemical control（电化学控制） ；modular design （模块化设计） ；stm scanners stm current sensitivities model high low standard 0.1 v/na 1 v/na low current 1 v/na 10 v/na stm scan sizes size lateral vertical a 1 µ；m 0.7 µ；m s 10 µ；m 1.6 µ；m m 50 µ；m 7 µ；m stm noise levels size later...
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分子识别扫描成像探针显微镜
概述 简便快速的识别出分子结合事件中的分子或发生区域 通过结合相互作用来示出物质的种类 给出样品表面的吸附性的分布 提高得结果的速度、准度和精度 通过确定分子作用区来加速力测试 图示出分子的排列
仪器特点
无标记监测分子结合事件 同时获取形貌像和分子识别像 实时监测样品表面的结合事件和粘附性能 与MI公司MAC模式和PicoPlus完全兼容
应用领域： 1、探索生物领域的动态性能(抗体-抗原,配体-受体, 药物-受体, DNA-蛋...
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扫描电子显微镜图像系统改造
硬件： 1. 原装美国国家仪器公司图像采集板，支持pci总线标准（2.2版），其总线数据宽度可达32位，频率为33mhz，传输速率132mb/s；支持先进的数据管理结构，包括两路dma引擎，可编程的目标和源数据传输模式 ，以及pci消息功能，即插即用。 2. sem图像接口及电缆 功能： 1. 主动式数字扫描系统，可实时调整扫描速度，亮度和对比度等。 2. 可选择全屏扫描和区域扫描。 3. 采集速度：4～120μs多种点逗留方式。 4. 采集图像分辨率：64...
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TC1800 MK-II 扫描式可见分光色差计
波长:380~780nm‧波长间隔:5nm/81点 侦测器:光电倍增管(PMT)光学系统:0 - d / d - 0 / d - 8 / 0 - 45 / 45 - 0法符合标准:JIS Z-8722 , ASTM E1164测定项目:反射及穿透俱分光曲线图、偏色判定图、色坐标…等
1.应用在不平整物体,如粒状物丝状物及纹路平面物,不会有方向性问题,再现性佳2.采用分光光栅,双光束交照方式,具真正扫描式功能
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Image Metrology扫描探针显微镜图像分析系统
Over the years, the Scanning Probe Image Processor, SPIP™, has become the de-facto standard for image processing at nanoscale. SPIP™ is a modular software package offered as a basic module and 14 optional add-ons dedicated to specific purposes. Whether you are an expert user or new to the field of image analysis, SPIP™ lets you produce the results you need with just a few mouse c...
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X射线衍射-差值扫描热量同时测试装置
1. x線衍射装置 ： d/max ultima iii（3kw） 或d/max-ttr iii（18kw） 2. dsc方式 ： 熱流束型 3. 試料容器及放置方式 ： 試料容器（al制）7×7×深0.25mm 水平固定放置 4. 測定温度範囲 ： 室温～350℃ 使用低温单元，可以从-40℃开始测量（选件）。 5. 升降温速度 ： 0.5～10℃／min（標準：2～5℃／min）及保持温度一定、降温速 度在自然冷却速度内 6. 測定气氛 ： 大気中、惰性气体中 使用湿度発生装置，可以在室温5％rh、 60...
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钢筋扫描及保护层厚度检测仪器
SMY—300C钢筋检测仪，是一种便携式无损钢筋检测仪器。可用于钢筋混凝土结构施工质量的检测：能够在混凝土表面确定钢筋的位置、布筋情况、测量混凝土保护层厚度、钢筋直径等；此外，也可对混凝土结构中的磁性体及导电体的位置进行检测，如墙体内的电缆、水暖管道等。施工前的探测可以有效避免施工中对这些设施的损坏，减少意外的发生。
单探头双量程自由切换，探测深度大钢筋定位精确（只需一种方式即可完成精...
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