扫描电镜(SEM)主要应用于各种材料的形貌、组织观察，包括：有机材料、非均相催化剂材料、高分子材料、生物材料、无机材料、金属材料和各种复合材料等。
主要特点及技术参数：
- 全数字化控制系统，高分辨率、高精度的变焦聚光镜系统，高真空模式可达3.0 nm，低真空模式可达4.0 nm；
- 放大倍数 ×5～×300,000；
- 加速电压0.5 kV至30 kV，既保证高电压下的高分辨率，也可提供低电压下高质量的图像；
- 全自动真空控制系统，高、低真空切换，低真空度1 to 270 Pa，
低真空模式下可以观察到高真空下无法观察的含水样品或非导体样品；
- 全自动电子枪，高灵敏度半导体背散射探头；
- Smile Shot™软件保证得到最佳电子光学参数，简易的图像分析及输出。
