具有耗散因子检测功能的石英晶体微天平（QCM‐D）可提供多个频率和耗散因子数据，用于测定非常薄层的吸附层的质量，并同步提供粘弹性等结构信息。该设备可对多种不同类型表面的分子相互作用和分子吸附进行研究，同时可以检测分子的结构变化以及吸附与解析的动态过程。

    2011年10月19－20号在北京清华科技园举行了“2011年QCM-D学术交流会即第二届QCM-D技术世界巡展——从生命科学到聚合物，QCM-D技术的原理及应用”。