X射线衍射（X-ray diffraction，XRD）技术因其能够快速分析材料成分、材料内部原子或分子结构形态等优点已广泛应用于分析化学领域。然而，由于仪器振动、电磁干扰等因素的影响，X射线衍射仪测得的XRD谱噪声大。因此，本研究引入经验模态分解（Empirical mode decomposition，EMD）结合t检验的方法对XRD谱进行去噪。首先，采用EMD将XRD谱分解，得到一系列频率不同的固有模态函数（Intrinsic mode functions，IMFs）分量。高频的IMFs分量代表噪声，低频的IMFs分量代表有用信息。但有时噪声和有用信息难以区分。因此，本研究又引入统计学t检验的方法判断IMFs分量均值与零之间的显著性差异。最后将无显著性差异的分量删除，并重构有显著性差异的分量，得到去噪后的XRD谱。通过一个仿真XRD谱和两个实测XRD谱验证提出方法的可行性。结果表明，与Savitzky-Golay（SG）平滑相比，EMD结合t检验的方法能够能有效去除XRD谱中的噪声。