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xFe-Al2O3颗粒薄膜的XRD分析和GMR效应

xFe-Al2O3颗粒薄膜的XRD分析和GMR效应

资料类型：

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关键词：

溅射法颗粒薄膜巨磁阻 X-射线衍射

资料大小：

93K

所属学科：

分子表征

来源：

2004年第五届中国功能材料及其应用学术会议（9.12-9.16，北京.秦皇岛）

简介：

对rf溅射法制备的xFe-Al2O3颗粒薄膜，应用X射线衍射仪（XRD）进行了测试和分析，推算了不同样品中Fe粒子的大小和元素面积比。并使用4探针外加磁场法对薄膜的巨磁阻效应进行了分析和讨论。当Fe面积比约为25%时，样品的磁电阻率在1.5T磁场下可达-2.3%。

作者：

艾尔肯·阿不列木甫尔开提·夏尔丁哈里木拉提·阿扎提

上传时间：

2007-07-16 18:04:32

下载次数：

613

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