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| 资料类型： |
PDF文件
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| 关键词： |
表面形貌 正常晶粒生长 反常晶粒生长 LSW理论模型 |
| 资料大小： |
241K |
| 所属学科： |
分子表征 |
| 来源： |
2004年第五届中国功能材料及其应用学术会议（9.12-9.16，北京.秦皇岛） |
| 简介： |
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在不同的生长阶段Au膜具有不同的表面微结构。随着厚度的增加，薄膜晶粒要经历成核、正常晶粒生长和反常晶粒生长过程，在不同的过程中Au膜呈现出不同的表面形貌。在正常晶粒生长阶段，薄膜晶粒呈柱状生长；随后的反常晶粒生长过程中会出现晶粒吸收现象，使具有较优取向的晶粒越长越大。X射线衍射图（XRD）显示Au膜具有（111）面取向优势。利用LSW理论模型计算并解释了晶粒反常生长过程。 |
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| 作者： |
关博 江勇 许小亮
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| 上传时间： |
2007-07-06 14:58:41 |
| 下载次数： |
617 |
| 消耗积分： |
2
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