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液晶样品结构重组现象研究 |
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| 资料类型： |
PDF文件
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| 关键词： |
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| 资料大小： |
189K |
| 所属学科： |
分子表征 |
| 来源： |
第七届全国高聚物分子与结构表征学术讨论会论文集（2010.10.11~14，上海） |
| 简介： |
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德国热分析协会（GEFTA）和ASTM推荐使用二次标准液晶样品M24、BCll一52和HP-53的相转变来检验DSC的升降温对称性。当这些液晶样品用于检验最近发展起来的快速扫描量热仪的对称性时，特别是在芯片量热仪中，我们观察到了液晶样品的结构重组现象。 |
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| 作者： |
江伟，姜芳，周东山，薛奇
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| 上传时间： |
2011-01-30 13:42:27 |
| 下载次数： |
1 |
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4
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