氧化钇稳定二氧化锆（YSZ）微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析，2004年第五届中国功能材料及其应用学术会议（9.12-9.16，北京.秦皇岛）-中国聚合物网,论文下载

氧化钇稳定二氧化锆（YSZ）微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析

资料类型：

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关键词：

YSZ 微波烧结复阻抗电导率

资料大小：

124K

所属学科：

分子表征

来源：

2004年第五届中国功能材料及其应用学术会议（9.12-9.16，北京.秦皇岛）

简介：

研究了8mol%Y2O3掺杂ZrO2(8YSZ)材料微波烧结陶瓷在300~850℃温度范围内的交流复阻抗谱，获得了该材料的温度-离子电导率曲线，并与常规烧结的陶瓷体进行了比较。结果发现8YSZ的微波烧结陶瓷的晶界势垒在550℃被击穿，常规烧结陶瓷的晶界势垒在500℃被击穿。击穿后晶界电阻消失，离子电导率的变化主要由晶粒电导率的变化决定。在击穿温度点以下，陶瓷体的离子电导率随温度的升高呈波浪式上升，即曲线呈上升~下降~上升趋势。

作者：

赵青常爱民简家文巴维真李志军

上传时间：

2007-07-13 16:28:35

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