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| 资料类型： |
PDF文件
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| 关键词： |
薄膜 高分子结晶 亚稳态现象 自晶种技术 |
| 资料大小： |
71K |
| 所属学科： |
分子表征 |
| 来源： |
2009年全国高分子学术论文报告会（8.18-8.22，天津） |
| 简介： |
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高分子结晶中存在广泛的亚稳态现象[1]。高分子链在晶体中由于无法完全伸展，而形成具有纳米尺度厚度的片晶。根据Gibbs-Thomson关系，片晶的热稳定性随着厚度的增加而增加，而片晶的厚度与它所经历的一切热历史有关。在实验中表现为高分子晶体没有单一的熔点，而是具有很宽的融程，这也说明高分子晶体的厚度具有多分散性。近期的实验中[2]，Xu等人利用薄膜中的高分子自晶种技术制备了具有均一取向的纳米尺寸的高分子晶体阵列，同时也说明了即使在同一块片晶中，片晶的厚度也分布不均，厚的部分在自晶种过程中可以幸存下来，重结晶时诱导籽晶体生长。利用这一方法，我们可以通过研究自晶种后生成的子晶体数目来估计不同条件下得到的高分子片晶的厚度及厚度分布。 |
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| 作者： |
马禹a,b，胡文兵*a，Günter Reiterb
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| 上传时间： |
2009-09-08 11:42:41 |
| 下载次数： |
1 |
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2
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