基于EBSD 技术对NiW 合金复合基带表面微取向的分析，2007年第六届中国功能材料及其应用学术会议暨2007国际功能材料专题论坛论文集(11.15-11.19，武汉)-中国聚合物网,论文下载

基于EBSD 技术对NiW 合金复合基带表面微取向的分析

资料类型：

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关键词：

EBSD 复合基带立方织构

资料大小：

629K

所属学科：

分子表征

来源：

2007年第六届中国功能材料及其应用学术会议暨2007国际功能材料专题论坛论文集(11.15-11.19，武汉)

简介：

采用EBSD技术对大冷轧变形量、再结晶退火后的Ni-W复合基带的表面织构进行了表征，对其晶粒取向信息、晶界特征等信息进行采集和分析。该基带经过冷轧和再结晶退火后，无需抛光，即可获得具有花样质量较高的Ni基复合基带表面的EBSD图像。经OrientationImagingMicroscopyTM(OIM)4.6软件分析，结果表明该Ni基复合基带表面10以内立方织构晶粒百分含量为97.9%。

作者：

祝永华，索红莉，赵跃，刘敏，何东，马麟，吉元，周美玲

上传时间：

2008-05-19 16:57:56

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