CdZnTe 晶体缺陷的透射电子显微分析，2007年第六届中国功能材料及其应用学术会议暨2007国际功能材料专题论坛论文集(11.15-11.19，武汉)-中国聚合物网,论文下载

CdZnTe 晶体缺陷的透射电子显微分析

资料类型：

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关键词：

CdZnTe 透射电子显微镜缺陷固液界面

资料大小：

589K

所属学科：

分子表征

来源：

2007年第六届中国功能材料及其应用学术会议暨2007国际功能材料专题论坛论文集(11.15-11.19，武汉)

简介：

采用透射电子显微镜对CdZnTe晶体材料的缺陷特性进行了分析。在（111）面的透射电镜明场像中，观察到了棱柱位错环、位错墙、沉淀相、层错及倾斜的孪晶界面。应力是位错形成的主要原因，棱柱位错环的产生是由于沉淀相粒子在基体上产生错配应力；而位错网络与位错墙是两种热应力联合作用于晶体边缘的结果。晶体生长过程中，液固界面生长形态从平界面向胞状界面发展产生的沉淀相衬度不同于由于Te原子溶解度的回退产生的沉淀相衬度。CdZnTe晶体中的堆跺层错和孪晶与固液界面的稳定性相关。

作者：

曾冬梅，王涛，查钢强，张继军，介万奇

上传时间：

2008-05-19 17:01:39

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05031020432 2008-11-03 21:11:38

看不到啊，怎么看哦

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