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| 资料类型： |
PDF文件
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| 关键词： |
Ge薄膜 XRD Raman散射光谱 晶粒尺寸 声子限域理论 |
| 资料大小： |
128K |
| 所属学科： |
分子表征 |
| 来源： |
2004年第五届中国功能材料及其应用学术会议（9.12-9.16，北京.秦皇岛） |
| 简介： |
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采用直流磁控溅射技术制备了不同衬底温度下的Ge单层膜，XRD分析结果表明，当衬底温度低于350℃时Ge膜为非晶结构，高于400℃时开始结晶。并研究了不同尺寸Ge颗粒的Raman散射谱特征，与晶体Ge的散射谱相比，观察到纳米Ge颗粒Raman散射谱的峰位红移与峰形宽化现象；并根据Raman谱的红移量计算了纳米Ge晶粒的平均尺寸，采用声子限域理论较好地解释了实验结果。 |
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| 作者： |
高立刚 陈刚 邓书康 陈亮 阚家德 俞帆 杨宇
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| 上传时间： |
2007-07-13 14:56:27 |
| 下载次数： |
617 |
| 消耗积分： |
2
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