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SrTiO3 薄膜材料的高分辨率X射线衍射分析研究  
SrTiO3 薄膜材料的高分辨率X射线衍射分析研究
资料类型: PDF文件
关键词: 高分辨X射线衍射  外延生长  弛豫态的点阵常数  
资料大小: 180K
所属学科: 分子表征
来源: 2004年第五届中国功能材料及其应用学术会议(9.12-9.16,北京.秦皇岛)
简介:
本文应用高分辨X射线衍射(HRXRD+TAXRD)技术对外延生长的SrTiO3膜进行了分析,获得了有关该薄膜的晶体取向、衬底的结构特性以及弛豫态的点阵常数等信息,对今后改进SrTiO3系列样品生长工艺有重要的意义。
作者: 姬洪 左长明 何士明 熊杰 李言荣
上传时间: 2007-07-06 13:54:19
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