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小角中子散射技术及其在大分子结构表征中的应用 |
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| 资料类型： |
PDF文件
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| 关键词： |
小角中子散射 高分子 |
| 资料大小： |
1705k |
| 所属学科： |
高分子物理 |
| 来源： |
来源网络 |
| 简介： |
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小角中 子散射 SANS 是一种表征 从 纳米到微米 尺寸 物质 特征结构的 有力 工具 配合 中子 的 强穿透性和同位素辨识 等 特性 在软物质大分子 结构表征 方面发挥着独特的作用 。 虽然 SANS 的基本原理与 小角激光光散射 和 小角X 射线 几乎完全相 同 ，但是 SANS 谱仪 受限于中子源流强 只能建在大型中子源，所以 在 我国发展很晚，缺乏用户基础。随着 中国 散裂中子源（ CSNS ）在 2018 年正式对外接受机时申请，国内 SANS 用户群逐年扩大。大分子是 SANS 的主要研究领域，为进一步发展用户， 我们 综述 了 SANS 技术及其应用。 本文 首先 简要 介绍小角中子散射 技术 的基本原理 、 谱仪结构 和 实验 技巧 ，然后紧扣 小角谱仪的特点和 和方法学方面的最新进展， 介绍小角中子散射 在 大分子溶液、大分子共混物和复合材料、 高 分子结晶、凝胶、多孔材料、生物大分子 等 研究领域 的 结构表征 方面 的 典型应用 。 |
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| 上传人： |
chengheiccas
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| 上传时间： |
2021-02-24 12:39:58 |
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